メンテナンス方法
- レバー上部を押しラッチを外し、コネクタを持ち上げ、アダプタを外す。
- 交換可能コネク
タアダプタ（割
スリーブ部）を
清掃する。
- 交換可能コネ
クタアダプタを
取り外し、フェ
ルール部端面、
側面を清掃。
- 光コネクタのフェルール端面をコネクタクリーナで清掃。
フェルール端面に汚れが付着した波形
コネクタクリーニング後の正常な波形
各部の名称と働き
正面
- 1数字キー
ファイル入力時に数字直接入
力できます。設定画面で数字
入力できます。一部ショート
カットキーとしても使えます。 - 2バック
スペースキー
（BS） - 3電源キー
- 4ファンクションキー（F）
“F4”はOTDR測定時は
リアルタイム測定キーとなります。 - 5ファンクションキー（f）
- 6ロータリエンコーダ
設定画面やOTDR測定時に
カーソルが移動します。押すこ
とによりエンターキーとして
使用できます。
- 7エスケープキー
（ESC） - 8矢印キー
設定画面のカーソル
移動や、OTDR測定
画面のズームやスク
ロールを行います。 - 9エンターキー
（Enter） - 10スタートキー
（Start）
OTDRでアベレージ
測定を開始します。 - 11トップメニューキー
（Top Menu）
トップメニュー画面に戻ります。
上面
- 1光パワーメータポート（オプション）
- 2DC入力コネクタ
ACアダプタを介して
電源を供給します。 - 3可視光ポート（オプション）
- 4測定ポート
●OTDR／光源 ：正面右側がメインポート。
左側は1.65μm若しくはMMF測定時に使用。
●光パワーメータ ：オプション光パワーメータ
装着時は機能はありません。
- 5USB接続部
Aタイプ ：USBメモリ／
ファイバスコープ（別売）
Bタイプ ：PC通信ポート - 6IP試験ポート（オプション）
マーカ操作の設定
MT9082にはマーカ操作方法が2通りあります。
- 画面起動時のトップメニューから、システム設定（f2）を選択。
- 次に光パルス試験の設定（f4）を選択し、その中にあるマーカ操作で、「移動方式」と「配置方式」が選択できる。
配置方式（６点マーカ）
動かしたいマーカを選択して
カーソル移動させます。移動方式（４点マーカ）
マーカを置きたい場所にカーソルを移動して
マーカ番号を押して配置します。
障害位置探索
測定モードを「すべて自動設定」に
しておけば、障害の一次切り分け
の測定では、たった3回キーを押す
だけで障害位置候補を自動検出で
きます。（移動方式設定時）
しておけば、障害の一次切り分け
の測定では、たった3回キーを押す
だけで障害位置候補を自動検出で
きます。（移動方式設定時）
- トップメニュー
- 光パルス試験
（障害判定） - Ｓｔａｒｔ
障害点の第一候補として光ファイバの切れた
箇所、第二候補として接続損失の一番大きい
箇所を表示します。
障害箇所を簡単な操作、かつ大きな文字で容
易に確認できます。
波形重視、数値重視の２パターン切替が可能（移動方式）
高ダイナミックレンジ測定
広ダイナミックレンジ（f1）※MT9082B／Cに搭載
パルス幅50ns～2000nsの間で設定可能です。標準設定の同じパルス幅に比べ、S/N（ダイナミックレンジ）が向上します。長距離ファイバ測定や、損失の大きなPONシステム測定に優れています。
※MT9082Aには、上記2種類の選択メニュー
はない。MT9082Bの標準設定に相当する機
能のみ搭載されています。
はない。MT9082Bの標準設定に相当する機
能のみ搭載されています。
ＰＯＮシステム測定例
パルス幅100ｎｓに設定し平均化時間60秒以下で64分岐後の損失が見られます。
どこで障害が発生したかを一度の
測定で正確に検出可能です。
スプリッタ以降の後方散乱光も測定さ
れるためファイバ損失等の障害が正確
に検出可能です。
リアルタイム測定
リアルタイム測定をしながら波形解析
- 高速測定／高S/N測定（F1）どちらかの測定条件を選択。
- マーカの配置（f2）を選択しマーカを任意に設定。
※マーカを設定して、区間損失や、反射減衰量を解析できます。
高速測定
高速測定モードでは最速0.2
秒の応答速度で掃引します。
高S/N測定
高S/N測定モードではノイ
ズの少ない安定した波形が
得られます。これにより0.1ｄ
Ｂ程度の小さな波形変化も
捉えることが可能です。
リアルタイムによるファイバ曲げ測定
スプリッタ下部のファイバの曲げによる遠端反射の変化を、短いパルス幅設定で見ることができます。
ＭＴ９０８２Ｂアクセスマスタならノイズにまぎれることなくはっきりと波形の変化が捉えられます！
便利な操作
反射減衰量測定が簡単
反射減衰量は、マーカを1つ配置すれば測定できます。（配置方式）
2箇所の距離と損失を一度に測定
離れた2区間の距離と損失が一度に測定できます。
光パルス試験の設定で配置方式の
設定時に①～②、③～④を表示を
選択します。
設定時に①～②、③～④を表示を
選択します。
短距離測定
パルス幅3nsではフレネル反射デッドゾーンが80cm（typ.）となり、短い距離の接続を検出可能です。
また口元デッドゾーンもコネクタ接続と同等程度に反射が押えられるため、ダミーファイバなしで測定できます。（1.31μm、1.55μm、1.65μm共通）
MT9082Bは口元の反射が小さいためダ
ミーファイバなしで近距離の短い接続の
測定が可能です。
ミーファイバなしで近距離の短い接続の
測定が可能です。
全損失・全反射量測定
ファイバ線路の全損失、全反射の測定には前後にダミーファイバを付けて測定します。
被測定ファイバの両端に
ダミーファイバを接続します。
ダミーファイバを接続します。
両端の光コネクタの反射減衰量（反射量）、
接続損失を含めた全損失測定、全反射減衰量測定が可能です。
接続損失を含めた全損失測定、全反射減衰量測定が可能です。
口元側のダミーファイバと
被測定ファイバの接続点に
①マーカを置きます。
被測定ファイバの接続点に
①マーカを置きます。
全損失測定
遠端側のダミーファイバと被測定ファイバの
接続点に②マーカを置きます。
遠端側のダミーファイバと被測定ファイバの
接続点に②マーカを置きます。
全反射測定
遠端側のダミーファイバと被測定ファイバの
接続点反射の後ろに②マーカを置きます。
遠端側のダミーファイバと被測定ファイバの
接続点反射の後ろに②マーカを置きます。